製品解析・試験

高品位を保つ豊富な試験・解析装置

マイクロフォーカスX線透視装置

高密度実装基板やBGA・CSP・システムLSI等、超微細部の接合状態(断線・接触)を透視検査を行います。寸法計測、BGAボイド率計測、面積比率計測、ワイヤー流れ率計測等の計測も可能です。


ICT(インサーキットテスタ)

部品の特性(抵抗値やコンデンサの値)を測定、断線やショートの有無を検査します。実装基板の試験と同時に生基板の配線チェックも行うことが可能です。


オシロスコープ

高速処理の計測にも対応するオシロスコープでオーバー/アンダーシュート、リンギング、遅延等を実測検証します。

【豊富なオプションも活用】
・FETプローブ
・高電圧差動プローブ
・AC電流プローブ
・電流プローブ
・高電圧プローブ等


拡大スコープ

不具合箇所の調査や解析を行うため拡大スコープ、画像解析・計測ソフトを使用しています。


複合環境試験

複合試験器(温度・湿度・振動)により、諸条件での信頼性・動作状態を確認します。


回路負荷試験

電源部や各デバイスに負荷を加え、電流耐量の評価やバッテリの評価シミュレーション、DC-DCコンバータの定電力での評価を行います。


電源電圧変動イミュニティ試験(IEC61000-4-11準拠)

電源電圧・周波数の変動・遮断、電圧フリッカ、インパルス電圧重畳、電圧変化シーケンス、波形ひずみ等、各種試験により誤動作や機能の損失を測定します。


静電気放電イミュニティ試験(IEC61000-4-2準拠)

静電気による誤動作を防止するため、電子機器に静電気を放電して耐性試験を行います。


放射無線周波電磁界イミュニティ試験(IEC61000-4-3準拠)

電子機器が妨害電波を受けたときの妨害排除能力(誤動作や機能の損失)を測定します。国際規格で新たに定められた1GHz以上の帯域でも測定可能な試験環境が整っています。


伝導無線周波電磁界イミュニティ試験(IEC61000-4-6準拠)

電源ケーブルの伝導妨害波による妨害排除能力(誤動作や機能の損失)を測定します。(150kHz~80MHz)


近接照射RFイミュニティアンテナ

周囲からの強電界(電波)よりどのくらい耐性(感受性)があるか測定するためのアンテナです。トランシーバーと同じ役割をしますので、計測ポイントの近傍で照射出来ます。145~1900までの12本のアンテナ構成です。


雑音イミュニティ試験

電源ラインに方形波・三角波のパルスを注入することにより、高圧パルスのノイズ試験を行います。


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